掃描電鏡原位拉伸臺(tái)是一種材料測(cè)試設(shè)備，它能夠在SEM觀(guān)察下對(duì)材料進(jìn)行原位拉伸測(cè)試，為研究材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)與力學(xué)性能關(guān)系提供了有力手段。
一、技術(shù)細(xì)節(jié)
高精度定位與運(yùn)動(dòng)控制：采用高精度定位與運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)微米甚至納米級(jí)別的精確位移控制。這對(duì)于觀(guān)察材料在拉伸過(guò)程中的微觀(guān)結(jié)構(gòu)變化至關(guān)重要。
高靈敏度應(yīng)力/應(yīng)變測(cè)量：配備了高靈敏度的應(yīng)力/應(yīng)變傳感器，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)材料在拉伸過(guò)程中的應(yīng)力與應(yīng)變變化。這有助于準(zhǔn)確分析材料的力學(xué)性能。
良好的兼容性：掃描電鏡原位拉伸臺(tái)設(shè)計(jì)有良好的兼容性，可以與多種型號(hào)相匹配。此外，它還支持多種樣品夾持方式，以滿(mǎn)足不同樣品的測(cè)試需求。
穩(wěn)定的溫度與濕度控制：為了保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，通常配備有穩(wěn)定的溫度與濕度控制系統(tǒng)。這有助于模擬實(shí)際工作環(huán)境，減少環(huán)境因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
二、操作流程
樣品準(zhǔn)備：先要準(zhǔn)備好待測(cè)試的樣品，并根據(jù)測(cè)試需求選擇合適的夾持方式將樣品固定在拉伸臺(tái)上。
設(shè)備調(diào)試：打開(kāi)電源，對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)試，確保設(shè)備處于正常工作狀態(tài)。
參數(shù)設(shè)置：根據(jù)測(cè)試需求設(shè)置拉伸速度、目標(biāo)應(yīng)變等參數(shù)。同時(shí)，調(diào)整放大倍數(shù)和聚焦位置，以便觀(guān)察樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)變化。
開(kāi)始測(cè)試：?jiǎn)?dòng)掃描電鏡原位拉伸臺(tái)，開(kāi)始對(duì)樣品進(jìn)行拉伸測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中，密切關(guān)注屏幕上的圖像變化以及應(yīng)力/應(yīng)變傳感器的數(shù)據(jù)輸出。
數(shù)據(jù)記錄與分析：當(dāng)達(dá)到目標(biāo)應(yīng)變或測(cè)試結(jié)束時(shí)，保存測(cè)試數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析。通過(guò)對(duì)比不同條件下的測(cè)試結(jié)果，可以深入研究材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)與力學(xué)性能關(guān)系。
